По-запросу
Инвертированный металлографический микроскоп XIM300 оснащен оптической системой UIS и конденсором для установки светофильтров, что позволяет применять его для фазово-контрастных и темнопольных методов исследования.
Монолитный корпус и широкое основание обеспечивают прочность микроскопа, устойчивость к вибрациям и превосходное качество изображений. Подходит для исследований в области металлографии, минералогии, точного машиностроения и т. д.
